X熒光光譜儀有兩種分別是波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀和能量色散型X熒光光譜儀。我們這篇文章說(shuō)的X熒光光譜儀就是指波長(zhǎng)色散的儀器。
1、X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)
(1) 制樣簡(jiǎn)單。基本上都是物理制樣。試樣經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成。
(2) 分析范圍廣。理論上從四號(hào)元素Be到92號(hào)元素鈾均可進(jìn)行分析。
(3) 測(cè)量范圍寬。從0.001%到100%均可進(jìn)行分析。
2、X熒光光譜儀的劣勢(shì)
(1) 各公司宣傳XRF熒光光譜儀的分析范圍從PPM到100%。事實(shí)上熒光光譜儀的分析范圍并沒(méi)有那么廣，受所分析試樣的基體影響很大。如果分析碳?xì)浠衔镏械脑兀瑱z出限可以達(dá)到到PPM，如石油中硫S的分析，地質(zhì)樣品中則只能達(dá)到10PPM，而在鉛合金中檢出限要50PPM以上。XRF無(wú)法進(jìn)行純金屬材料分析，因?yàn)榧兘饘俨牧现懈髟氐暮烤艿汀?/p>
(2) XRF不能分析不銹鋼中的五害元素。傳統(tǒng)上，不銹鋼生產(chǎn)企業(yè)通常用XRF熒光進(jìn)行過(guò)程控制分析，但是目前不銹鋼生產(chǎn)企業(yè)就只能用直讀光譜儀來(lái)測(cè)量微量元素了，因?yàn)楫?dāng)今材料要求五害元素的含量比國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要低得多。
(3)XRF對(duì)標(biāo)樣的依賴(lài)性很強(qiáng)。試樣的顆粒度、組成、結(jié)構(gòu)差異等均會(huì)對(duì)分析結(jié)果產(chǎn)生很大影響。